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XOS 單波長(zhǎng)X熒光在線分析儀的工作原理介紹

更新時(shí)間:2024-03-13  |  點(diǎn)擊率:366
  XOS 單波長(zhǎng)X熒光在線分析儀是一種利用X射線熒光光譜法(XRF)進(jìn)行元素分析的儀器。它主要用于實(shí)時(shí)、快速、非破壞性地檢測(cè)液體、漿料或固體中的元素的濃度。這種分析儀在許多工業(yè)領(lǐng)域,如石油化工、環(huán)保、礦產(chǎn)處理、水泥生產(chǎn)等,都有廣泛的應(yīng)用。以下是XOS 單波長(zhǎng)X熒光在線分析儀的工作原理:
 
  1、 X射線源:其核心部分是一個(gè)X射線源,通常使用鎢靶或鉬靶作為陽(yáng)極材料。當(dāng)電子束撞擊陽(yáng)極時(shí),會(huì)產(chǎn)生高能X射線。這些X射線具有足夠的能量來(lái)激發(fā)樣品中的元素產(chǎn)生特征X射線。
 
  2、 樣品激發(fā):將待測(cè)樣品放置在分析儀的測(cè)量室中。X射線源發(fā)出的初級(jí)X射線穿過(guò)樣品,與樣品中的元素相互作用。當(dāng)初級(jí)X射線的能量大于元素的特征吸收邊,樣品中的元素會(huì)被激發(fā),其內(nèi)層電子會(huì)被逐出,形成一個(gè)空穴。
 
  3、 特征X射線產(chǎn)生:當(dāng)內(nèi)層電子被逐出后,外層電子會(huì)躍遷到空穴,同時(shí)釋放出能量。這個(gè)能量以特征X射線的形式釋放出來(lái),其能量等于兩個(gè)電子能級(jí)之間的能量差。這個(gè)特征X射線是元素有的,可以用來(lái)識(shí)別元素的種類。
 
  4、 探測(cè)與信號(hào)處理:特征X射線被探測(cè)器接收,通常使用硅鋰探測(cè)器或鍺探測(cè)器。探測(cè)器將接收到的X射線光子轉(zhuǎn)化為電信號(hào),然后通過(guò)放大器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器將電信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)。最后,通過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,得到元素的特征X射線強(qiáng)度。
 
  5、 定量分析:通過(guò)比較特征X射線的強(qiáng)度與已知濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品的強(qiáng)度,可以計(jì)算出待測(cè)樣品中元素的濃度。通常使用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或理論α系數(shù)法等方法進(jìn)行定量分析。
 
  6、校正與控制:為了確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,需要對(duì)分析儀進(jìn)行定期校正。這包括對(duì)X射線源、探測(cè)器、放大器等部件的性能進(jìn)行校正,以及對(duì)測(cè)量過(guò)程的控制。此外,還需要對(duì)樣品的形態(tài)、密度、粒度等因素進(jìn)行校正,以減小測(cè)量誤差。
 
  總之,XOS 單波長(zhǎng)X熒光在線分析儀通過(guò)激發(fā)樣品產(chǎn)生特征X射線,然后通過(guò)探測(cè)器接收和處理信號(hào),最后通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行定量分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品中元素的實(shí)時(shí)、快速、非破壞性檢測(cè)。這種分析儀在許多工業(yè)領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價(jià)值。